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簡述測厚儀的測量原理
點(diǎn)擊次數(shù):1034 更新時間:2021-08-09
簡述測厚儀的測量原理
測厚儀是一種用來測量物體厚度的儀器。它是使用微波和激光技術(shù)制成的。分為激光測厚儀、X射線測厚儀、薄膜測厚儀等。測厚儀的檢測方法主要有:磁性測厚、輻射測厚、電解測厚、渦流測厚、超聲波測厚等。
??其測量原理:
??設(shè)備測量安裝支架到物體表面的距離,然后根據(jù)支架固定距離計(jì)算出物體的厚度。
??激光束在被測物體表面形成一個小光斑,成像物鏡將光斑成像在光敏接收器的感光面上,并產(chǎn)生檢測光斑在感光面上位置的電信號。當(dāng)被測物體移動時,其表面光斑相對于成像物鏡的位置會發(fā)生變化,光敏器件上的像點(diǎn)位置也會隨之發(fā)生變化,可得到被測物體的實(shí)際移動距離。計(jì)算。測厚儀的檢測方法主要有:磁性測厚、輻射測厚、電解測厚、渦流測厚、超聲波測厚等。